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    nex cg séries

    Spectromètre de fluorescence X à dispersion d'énergie NEX CG apprendre la géométrie cartésienne avancée EDXRF pour Analyse élémentaire qualitative et quantitative rapide

    Rigaku NEX CG fournit une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d'échantillons - avec des normes minimales :
    - Analyser le sodium et l'uranium de manière non destructifs Solides, liquides, poudres et films minces
    - Excitation polarisée pour des limites de détection inférieures 
    - Un nouveau traitement du chevauchement des pics réduit les erreurs
    - Limites de détection PPB pour les échantillons aqueux utilisant Ultra Carry
    - Interface utilisateur simplifiée avec EZ Analysis
    - Passeur d'échantillons automatique standard à 15 positions

    Géométrie cartésienne polarisée pour la sensibilité au niveau de trace

    Contrairement aux analyseurs EDXRF conventionnels, le NEX CG a été conçu avec un noyau optique unique à géométrie cartésienne (CG) à couplage étroit qui augmente considérablement le rapport signal sur bruit. En utilisant une excitation de cible secondaire, au lieu de l'excitation directe conventionnelle, la sensibilité est encore améliorée. La réduction spectaculaire du bruit de fond qui en résulte, et l'augmentation simultanée des pics d'éléments, aboutissent à un spectromètre capable d'analyser les éléments traces de routine, même dans les types d'échantillons difficiles.

    Les nouveaux logiciels réduisent le besoin de normes

    NEX CG est alimenté par un nouveau logiciel analytique qualitatif et quantitatif, RPF-SQX, qui intègre la technologie Rigaku Profile Fitting (RPF). Le logiciel permet une analyse semi-quantitative de presque tous les types d'échantillons sans normes - et une analyse quantitative rigoureuse avec des normes.

    Rapports d'application Rigaku NEX CG

    Des liquides homogènes à faible viscosité aux solides, aux métaux, aux boues, aux poudres et aux pâtes, le NEX CG permet une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d'échantillons

    Les utilisations typiques de la XRF comprennent l'analyse des huiles de pétrole et des carburants, du plastique, du caoutchouc et des textiles, des produits pharmaceutiques, des denrées alimentaires, des cosmétiques et des produits de soins corporels, des engrais, des matériaux géologiques, des aliments miniers, des scories et des queues, du ciment, des matériaux résistants à la chaleur, du verre , céramiques, catalyseurs, plaquettes; la détermination des revêtements sur papier, film, polyester; métaux et alliages, verre et plastique; la médecine légale; couches minces multicouches sur plaquettes de silicium, photovoltaïque et supports de stockage rotatifs ainsi que surveillance de la pollution des déchets solides, des effluents, des fluides de nettoyage, des piscines et des filtres. De plus, des jauges de procédé à transmission à rayons X (XRT) sont utilisées pour mesurer le soufre (S) dans le pétrole brut et le carburant de soute marin.

    Les spectromètres XRF sont l'outil d'analyse élémentaire de choix pour de nombreuses applications. Ils sont plus petits, de conception plus simple et moins coûteux à utiliser que d'autres technologies telles que la spectroscopie d'émission optique à plasma à couplage inductif (ICP-OES) et la spectroscopie d'absorption atomique (AA) ou de fluorescence atomique (AF). Exemples d'applications EDXRF courantes: Ciment et farine crue: soufre, fer, calcium, silicium, aluminium, magnésium, etc. Argile de kaolin: titane, fer, aluminium, silicium, etc. Catalyseurs granulaires: palladium, platine, rhodium, ruthénium, etc. Minerais: cuivre, étain, or, argent, etc. Ciments et mortiers de remplissage: soufre dans les cendres; Essence, diesel et RFG: soufre, manganèse, plomb, etc. Gazoles résiduels: soufre, chlore, vanadium, nickel, etc. Huile secondaire: chlore, etc. Kérosine, naphta: soufre, etc. Pétrole brut et combustibles de soute: soufre, vanadium, nickel, etc. Bains de placage, décapage et prétraitement: or, cuivre, rhodium, platine, nickel, sulfates, phosphates, chlorures, etc. Acide acétique: magnésium, cobalt et brome; Acide téréphtalique (TPA): cobalt, manganèse, fer, etc. Diméthyl téréphtalate (DMT): métaux lourds; Solutions de copolymère de PVC: chlore; Emulsion photographique: argent; Argile: métaux et non-métaux; Flux de déchets et d'effluents: métaux RCRA, chlorures, phosphates, etc. Aliments, aliments pour animaux de compagnie et autres aliments pour animaux: potassium, phosphore et chlore; Cosmétiques: zinc, titane, calcium, manganèse, fer, silicium, phosphore, soufre, aluminium et sodium; Traitement du bois: CCA, Penta, ACQ, ACZA, ignifuges à base de phosphore, naphthanate de cuivre, napthanate de zinc, TBTO, IPBC et combinaisons de ceux-ci; Antiacides: calcium; et dentifrice: phosphore et étain.

    Analyse élémentaire sans standard avec EDXRF

    Les spectromètres à rayons X Rigaku peuvent être utilisés en conjonction avec le logiciel des paramètres fondamentaux (FP) pour permettre la quantification

    élémentaire d'échantillons totalement inconnus sans étalons. Par exemple, l'analyseur de fluorescence X à dispersion d'énergie Rigaku NEX CG est alimenté par un logiciel analytique qualitatif et quantitatif, RPF-SQX, qui intègre la technologie Rigaku Profile Fitting (RPF). Le logiciel permet une analyse élémentaire semi-quantitative de presque tous les types d'échantillons sans normes - et une analyse quantitative rigoureuse avec des normes.

    Doté de la célèbre méthode Scatter FP de Rigaku, le logiciel peut estimer automatiquement la concentration élémentaire d’éléments à faible numéro atomique non observés (H à F) et fournir les corrections appropriées. RPF-SQX réduit considérablement le nombre d'étalons requis pour un niveau donné d'ajustement d'étalonnage, par rapport au logiciel d'analyse spectrométrique EDXRF conventionnel. Comme les normes d'analyse élémentaire sont coûteuses et peuvent être difficiles à obtenir pour de nombreuses applications, l'utilité du RPF-SQX peut réduire considérablement le coût de possession et réduire les exigences de charge de travail pour l'analyse élémentaire par fluorescence X à dispersion d'énergie de routine.

    Géométrie cartésienne

    Géométrie cartésienne avec polarisation pour le plus haut sommet à l'arrière-plan

    Contrairement aux analyseurs EDXRF conventionnels, le NEX CG a été conçu avec un noyau optique unique à géométrie cartésienne (CG) à couplage étroit qui augmente considérablement le rapport signal sur bruit. En utilisant une excitation de cible secondaire, au lieu de l'excitation directe conventionnelle, la sensibilité est encore améliorée.

    La réduction spectaculaire du bruit de fond qui en résulte, et l'augmentation simultanée des pics d'éléments, aboutissent à un spectromètre capable d'analyser de routine des éléments traces, même dans des types d'échantillons difficiles. Jusqu'à cinq polarisations et cibles secondaires couvrent toute la gamme élémentaire (Na - U) avec une sensibilité optimisée.

    Comme illustré dans le tracé spectral, la géométrie cartésienne avec cibles secondaires et polarisation fournit un signal sur bruit exceptionnel (spectre orange) par rapport à un système EDXRF à excitation directe classique (spectre noir).


    Support d'échantillon liquide aqueux pour l'analyse des oligo-éléments au niveau PPB


    Avec le Rigaku Ultra Carry breveté, vous pouvez utiliser votre spectromètre Rigaku NEX CG pour quantifier les oligo-éléments dans les liquides aqueux jusqu'à des niveaux de concentration en parties par milliard (ppb). L'analyse élémentaire de routine de l'eau contaminée ou des eaux usées industrielles peut désormais être effectuée sans spectromètre à absorption atomique (AA) ou à plasma à couplage inductif (ICP). L'analyse des oligo-éléments basée sur Ultra Carry convient à une utilisation par du personnel non technique.

    - Analyser une large gamme d'éléments (11Na à 92U)

    - Limites de détection élémentaires au niveau PPB pour les échantillons aqueux

    - Processus simple en trois étapes: pipeter, sécher et analyser

    - Interface utilisateur EZ Analysis NEX CG facile à utiliser

    - Analyse des éléments traces EDXRF uniquement à partir de Rigaku

    Ultra Carry est un nouveau dispositif de retenue d'échantillon jetable (à usage unique) pour l'analyse par fluorescence X (XRF) utilisé pour préconcentrer un échantillon liquide dans un porte-échantillon uniforme optimisé pour la suppression du bruit de fond. Cette approche améliore considérablement le rapport signal sur bruit, entraînant une amélioration de près de trois ordres de grandeur de la limite inférieure de détection (LLD ou LOD) et de la limite de quantification (LOQ) pour les éléments lourds.

    Le support d'échantillon Ultra Carry comprend un support en forme d'anneau équipé d'un film hydrophobe transmettant les rayons X et d'un tampon d'élément absorbant de liquide central. Pour l'analyse de routine à l'aide d'UltraCarry, un appareil de séchage sous vide recommandé - Rigaku UltraDry - est disponible en tant qu'accessoire XRF.