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Spectromètre de Fluorescence X à Dispersion d'Energie NEX CG II

Géométrie cartésienne avancée de nouvelle génération des EDXRF  pour une analyse élémentaire qualitative et quantitative rapide.


Le NEX CG II, un puissant spectromètre à fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) de deuxième génération, permet une détermination qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs dans une grande variété de types d'échantillons - des huiles et liquides aux solides, métaux, polymères , poudres, pâtes, revêtements et films minces.

  • Analyse élémentaire non destructive du sodium (Na) à l'uranium (U)
  • Analyses élémentaires rapides de solides, liquides, poudres, revêtements et films minces
  • Excitation indirecte pour des limites de détection exceptionnellement basses
  • Tube à rayons X haute puissance 50 kV 50 W
  • Détecteur de dérive au silicium (SDD) à haut débit de grande surface
  • Analyse dans l'air, l'hélium ou le vide
  • Logiciel QuantEZ® puissant et facile à utiliser avec interface utilisateur multilingue
  • Logiciel avancé de paramètres fondamentaux RPF-SQX avec Scattering FP
  • Algorithme avancé Rigaku Profile Fitting (RPF) pour la déconvolution maximale
  • Divers passeurs d'échantillons automatiques pouvant accueillir des échantillons jusqu'à 52 mm
  • Faible coût de possession soutenu par une garantie de 2 ans

 
 

Contrôle de la qualité industrielle aux applications de recherche avancées

Le Rigaku NEX CG II est un analyseur multi-éléments et polyvalent, idéal pour mesurer les concentrations d'éléments ultra-faibles et traces en pourcentage.  Particulièrement bien adapté à la détermination semi-quantitative du contenu élémentaire dans des inconnues complètes, NEX CG II sert de nombreuses industries.  Les applications vont de la recherche et du développement à l'assurance qualité industrielle et en usine.  Il est facile à utiliser pour les opérateurs non techniques mais suffisamment puissant pour une utilisation experte dans les laboratoires commerciaux et les installations de R&D.  Les utilisateurs peuvent atteindre les limites de détection les plus basses et gérer facilement des applications complexes telles que l'analyse des sols agricoles et des matières végétales, l'analyse des aliments pour animaux finis, la mesure des huiles usagées, la surveillance environnementale et bien d'autres.

Géométrie cartésienne et polarisation pour la sensibilité au niveau des traces

Contrairement aux spectromètres EDXRF conventionnels, NEX CG II est un système d'excitation indirecte utilisant des cibles secondaires plutôt que des filtres tubulaires.  L'excitation monochromatique et polarisée à partir de cibles secondaires améliore considérablement les limites de détection des éléments dans des matrices hautement diffusantes telles que l'eau, les hydrocarbures et les matériaux biologiques.  L'excitation de la cible secondaire en pleine géométrie cartésienne à 90° élimine le bruit de fond.  En conséquence, NEX CG II apporte un nouveau niveau de sensibilité analytique à la technologie XRF.  Les utilisateurs peuvent mesurer des concentrations d'éléments ultra-faibles et traces, même dans des types d'échantillons difficiles.

Contrôle facile des instruments avec un logiciel d'analyse qualitative et quantitative avancé

NEX CG II est facile à utiliser avec QuantEZ, un puissant logiciel sur PC offrant un contrôle intuitif des instruments avec une navigation simple dans les menus et une interface d'analyse EZ personnalisable.  Les utilisateurs peuvent maximiser leur temps et leur productivité avec des opérations de routine simplifiées et créer leurs propres méthodes à l'aide d'un simple assistant de barre de flux.

L'analyse qualitative et quantitative avancée est optimisée par le logiciel RPF-SQX Fundamental Parameters (FP) de Rigaku, doté de la technologie Rigaku Profile Fitting (RPF) et de la Scattering FP.


Géométrie Cartésienne 

  Le noyau optique à géométrie cartésienne 3D unique augmente considérablement le rapport crête-arrière-plan .

Le NEX CG II s'appuie sur l'héritage de NEX CG consistant à utiliser la géométrie cartésienne et des cibles secondaires pour la sensibilité au niveau des traces.  Le NEX CG II est doté d'un noyau optique de géométrie cartésienne à couplage étroit unique et amélioré qui augmente considérablement le rapport signal/bruit et fournit une analyse élémentaire améliorée.

Contrairement aux spectromètres EDXRF conventionnels, NEX CG II est un système d'excitation indirecte utilisant des cibles secondaires plutôt que des filtres tubulaires.  L'excitation monochromatique et polarisée à partir de cibles secondaires améliore considérablement les limites de détection des éléments dans des matrices hautement diffusantes telles que l'eau, les hydrocarbures et les matériaux biologiques.  L'excitation de la cible secondaire en pleine géométrie cartésienne à 90° élimine le bruit de fond.  En conséquence, NEX CG II apporte un nouveau niveau de sensibilité analytique à la technologie XRF.  Les utilisateurs peuvent mesurer des concentrations d'éléments ultra-faibles et traces, même dans des types d'échantillons difficiles.

Le NEX CG II atteint cette puissance analytique supérieure avec un tube à rayons X à anode en palladium de 50 kV 50 W à fenêtre d'extrémité, cinq cibles secondaires couvrant la gamme élémentaire complète du sodium à l'uranium (Na – U) et une grande surface à haut débit détecteur de dérive de silicium (SDD).  Ce noyau optique unique, combiné au logiciel avancé de paramètres fondamentaux RPF-SQX de Rigaku, fournit les mesures EDXRF les plus sensibles de l'industrie.

Notes d'applications 

Les notes d'application suivantes sont des documents hérités NEX CG de première génération. Ils reflètent les performances minimales réalisables sur le NEX CG II. De nouveaux rapports d'application NEX CG II arrivent bientôt.

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